二箱式冷热冲击试验箱 两厢冷热冲击试验箱采用7寸真彩LCD触摸屏,比其它屏更大，更直观，操作更简单,运行更稳定并且更节能,具有USB接口直接拷贝及记录功能，包括历史曲线,历史数据等，直接拷贝到计算机查看分析及存盘。

两槽式冷热冲击试验箱 支持定制 可程式 电子芯片lC、半导体材料陶磁及纤维材料之物理学性转变，检测其原材料对高低温试验的不断低抗拉力及商品于热涨冷缩商品的化学反应或物理伤害，可确定商品的质量，从高精密lC到重机械的部件。

冷热冲击两槽式试验箱 模拟环境 用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子…….材料，可作为其产品改进的依据或参考。

可程式 冷热循环试验箱 TSD- 80F-2P 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件,无-不需要它的理想测试工具。

可程式 快速冷热冲击试验箱 两箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,测试产品为静态。

三箱式冷热冲击循环试验箱 显示运行数据 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业电子芯片IC、导体陶瓷及高分子材料之物理性变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无-不需要它的理想测试工具。

电子元器件冷热冲击试验箱 可靠性测试设备专为电子行业设计，用于模拟电子元器件在温度环境下的快速冷热交替工况，精准检测其可靠性与稳定性。设备采用三厢式结构设计，包含高温箱、低温箱和测试箱，通过气动风门切换，实现样品在高低温环境间的快速转移。外壳选用高强度冷轧钢板，经表面喷塑处理，具备良好的防锈、防腐蚀性能；内部工作室采用 SUS304 不锈钢材质，耐高低温、无污染，确保测试环境纯净。

新能源电池冷热冲击试验箱循环寿命测试设备专为新能源电池研发、生产与质检环节设计，致力于精准模拟电池在温度交替环境下的使用工况，加速测试电池循环寿命。设备整体采用双箱式结构，高温箱与低温箱独立分区，通过气动风门快速切换，实现电池样品在高低温环境间的瞬时转移，确保测试数据真实反映电池在复杂环境下的性能变化。箱体外部选用高强度耐腐蚀钢板，经静电喷涂工艺处理，兼具防锈、防刮与美观性。