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恒温恒湿试验箱 电子元器件长期耐环境性能

恒温恒湿试验箱 电子元器件长期耐环境性能专为电子元器件长期耐环境性能测试设计,旨在模拟高温、低温、高湿、低湿等复杂环境,精准测试电子元器件在长期环境作用下的性能稳定性与可靠性。适用于电阻、电容、集成电路、传感器等各类电子元器件,可有效检测元器件在不同温湿度环境下的电气参数变化、材料老化、绝缘性能下降、焊点失效等潜在问题,帮助企业和科研机构验证产品设计合理性,优化生产工艺。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-05-26
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详细介绍

恒温恒湿试验箱 电子元器件长期耐环境性能

一、产品用途

本恒温恒湿试验箱专为电子元器件长期耐环境性能测试设计,旨在模拟高温、低温、高湿、低湿等复杂环境,精准测试电子元器件在长期环境作用下的性能稳定性与可靠性。适用于电阻、电容、集成电路、传感器等各类电子元器件,可有效检测元器件在不同温湿度环境下的电气参数变化、材料老化、绝缘性能下降、焊点失效等潜在问题,帮助企业和科研机构验证产品设计合理性,优化生产工艺,确保电子元器件在实际应用中具备良好的环境适应性和长期稳定性,为电子产品的质量控制和可靠性提升提供关键技术支持。





恒温恒湿试验箱 电子元器件长期耐环境性能

二、技术参数

  1. 温度范围:-40℃~150℃,覆盖电子元器件可能面临的高低温环境。

  1. 湿度范围:20% RH~98% RH,满足不同湿度条件下的测试需求。

  1. 温度波动度:±0.5℃,确保箱内温度稳定,减少因温度波动对测试结果的影响。

  1. 湿度波动度:±2.5% RH(>75% RH 时)、±3.0% RH(≤75% RH 时),精准控制湿度环境,保证测试准确性。

  1. 温度均匀度:±2℃,使箱内各区域温度一致,保障测试结果的一致性和可比性。

  1. 升温速率:≥1.0℃/min,降温速率:≥0.7℃/min,快速达到目标温湿度,提高测试效率。

  1. 运行时间:0 - 9999 小时可任意设定,满足电子元器件长期耐环境性能测试的时长要求。

  1. 电源要求:AC380V±10%,50Hz,确保稳定供电,保障设备持续运行。





三、箱体结构与材质

  1. 整体结构:采用箱式结构设计,内部为测试工作室,外部为箱体框架,配备独立的风道系统,确保温湿度均匀分布;箱门设有双层中空钢化玻璃观察窗,便于实时观察测试过程。

  1. 外壳材质:选用优质冷轧钢板,表面经静电喷塑处理,具有良好的防锈、防腐蚀性能,能适应实验室多种环境条件。

  1. 内胆材质:采用 SUS304 不锈钢板,表面光滑平整,易于清洁,且无挥发物质,避免对电子元器件造成污染,保证测试环境纯净。

  1. 保温材料:填充高密度聚氨酯发泡材料和超细玻璃纤维,隔热性能优异,有效减少箱内外热量交换,降低能耗,同时防止箱体外壁结露。

  1. 密封材料:箱门采用硅胶密封条,密封性能良好,确保箱内温湿度稳定,防止外界环境干扰测试结果。

四、温度控制系统
  1. 制冷系统:采用二元复叠式制冷技术,搭配进口全封闭压缩机和环保制冷剂,制冷效率高,能快速实现低温环境;通过智能变频调节,可根据实际需求自动调整制冷功率,节能降耗。

  1. 加热系统:采用镍铬合金电加热丝,结合 PID 智能控温算法,升温速度快且控温精准,可根据设定程序精确控制温度变化曲线。

  1. 加湿系统:采用不锈钢浅槽式加热加湿方式,配合高性能加湿器,能快速、稳定地调节箱内湿度,确保湿度均匀且稳定。



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